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型号:

TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杆2

描述:TEM-APTHolder电镜连用三维原子探针样品杆TEM-APTHolder电镜连用三维原子探针样品杆可与原子探针、透射电镜配套使用,有效地使原子探针和透射电镜检测结合在一起,使样品的观察和分析更加方便

  • 厂商性质

    经销商
  • 更新时间

    2024-03-12
  • 访问量

    143
详细介绍

 

TEM-APT  Holder 电镜连用三维原子探针样品杆

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TEM-APT  Holder 电镜连用三维原子探针样品杆可与原子探针、透射电镜配套使用, 有效地使原子 探针和透射电镜检测结合在一起, 使样品的观察和分析更加方便。 TEM-APT  Holder 电镜连用三维 原子探针样品杆用来夹持透射电镜样品放到透射电镜下进行观察, 可以 360°旋转样品, 透射电镜 配套的样品杆往往功能单一, 这款样品杆可以满足客户的多种的需要, 适合大专院校及科研院所 中与透射电镜配套使用。进口样品杆往往价格不菲, 本公司的样品杆不仅功能齐全且结实耐用, 价格也远低于进口设备的价格

 

产品型号

TEM-APT Holder 电镜连用三维原子探针样品杆

主要特点

1 TEM-APT 样品杆:三维原子探针(3DAP)和透射电镜(TEM)是先 进的原子尺度表征手段。

2、三维原子探针的结果不是“可视”的,需要通过数据重构再现。透射电镜能 提供“直接可视”的实验结果,但是结果是二维投影的,并且很难获得三维的  单个原子尺度的成分信息。基于它们各自的优势,我们开发了 3DAP-TEM 样品  杆,可以将原子探针(APT)试样直接加载到 TEM 样品杆上。

产品结构

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产品作用

(1)在 TEM 中直接观察 APT 试样上是否有令人感兴趣的区域,使样品检测工作效率增加;

(2)通过大角度倾转试样,获得不同角度试样的形貌结构特征,为 3DAP 数据重构提供帮助

(3) TEM 观察过后的试样可以直接移到 APT 中继续实验。将 APT 结果与 TEM 图像相结合,有助于优化重构参数,并使 3DAP 结果更具有可信度。

(4)在原子水平上获得了样品的组成和结构。

 

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产品性能

(1)接受锥形电化学抛光的样品或聚焦离子束(FIB)制备的样品柱。

(2)允许 360°的图像采集和层析图像的重建,不会因楔子缺失而造成信息损失。

(3)样品可以很容易地从支架上取出,然后直接转移到 APT 机上进行进一步表征。

(4)兼容所有几何形状的极片间隙。

 

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