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型号:

32工位高通量XRF检测仪(XRF-S32)2

描述:产品简介:32工位高通量XRF检测仪(XRF-S32)是一款高通量XRF检测仪,可一次检测32个样品,缩短整个测试实验周期

  • 厂商性质

    经销商
  • 更新时间

    2024-03-12
  • 访问量

    153
详细介绍

产品简介: 

       32 工位高通量 XRF 检测仪(XRF-S32)是一款高通量 XRF 检测仪, 可一次检测 32 个样品,缩短 整个测试实验周期。 该系统主要由手持式 XRF 检测仪、二轴运动平台、 32 工位样品台以及远程笔记本控 制系统四部分组成, 具有高的灵敏度,可以在极低浓度下(ppm 级) 快速简单的测量出样品中所含的各元 素(Ne  Pu)。可广泛应用于高通量方法进行合金材料成分分析筛选、高熵合金、新型磁性材料以及固 态陶瓷电解质材料等的分析研究中

产品型号

32 工位高通量 XRF 检测仪

主要特点

1 、该系统由手持式 XRF 检测仪、 二轴运动平台以及 32 工位样品台以及远程笔记本控制 系统四部分组成

 

2 XRF 检测仪可通过 USB 数据线与电脑连接,确保实验人员可以在安全的距离上操作

 

3 、一次最多可放置 32 个样品,实现高通量的材料成分检测

 

4 、设置有 X 射线指示灯,观察窗口采用铅玻璃材质, 确保 X 射线的安全使用

 

 

XRF 检测仪

 

1 、手持式 XRF 检测仪,结构小巧,操作简便

 

2、具有安全联锁结构, 避免 X 射线的意外泄露

3 USB 数据线与电脑连接在安全距离处进行检测,保证操作人员的安全(图 2

软件控制

 

 

笔记本电脑中包含预先安装好的 X 射线源控制软件, 探测器控制软件以及光谱分析软件 用于仪器各部分的控制和数据分析

强大的 XRF 控制系统以及光谱分析软件可以进行测量的定制和优化, 特别适用于研究复 杂样品和未知样品

光谱分析软件可用于样品的定性和定量分析

 

样品一般为块体或薄膜

 

可对空气中的衰减和吸收进行完整的校正

可对 55 种元素进行实时分析

可选择自动模式进行连续或重复性的分析

二轴运动平台

 

触摸屏显示控制,操作方便

检测时间(转换工位停留时间) X-Y 轴移动速度、结束工位等参数可调, 实现自动换

 

         

 

                                                       

搭配 32 工位样品台可进行高通量材料成分检测

32 工位样品台

 

 

 

样品可放置于 32 工位样品台上

 

样品台与二轴运动平台搭配使用,实现高通量材料成分检测(如下图)

技术参数

电源: 220V AC  50/60Hz,单相

产品规格

尺寸: 1000×800×1000mm;重量: 120kg

注意事项

前门观察窗口采用铅玻璃材质, 可衰减 X 射线强度,检测时需关闭前门,起到防护作用

建议 XRF 检测时远离箱体 36cm 进行操作

质量认证

CE 认证

 

符合 WEEE 指令、 EMC 指令、 RoHs (中国) FCC (美国) 以及 ICES-001 (加拿大) 等各项认证

 

 

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